減反射膜反射比智能測(cè)試儀－上海奧析科學(xué)儀器有限公司

減反射膜反射比智能測(cè)試儀特點(diǎn)

減反射膜反射比智能測(cè)試儀是具有良好結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng)的儀器，可以測(cè)試的材料有：具光學(xué)性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽(yáng)鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿足GB-10810.3-2006測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無臭氧環(huán)保型氘燈，德國(guó)歐士朗鎢燈，美國(guó)派來茲?rùn)z測(cè)器。保證了儀器性能的高可靠性。
具有開放式的樣品室設(shè)計(jì)，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測(cè)、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線測(cè)試。
掃描曲線可以和TFC膜系設(shè)計(jì)軟件對(duì)接，以便鍍膜時(shí)及時(shí)調(diào)整參數(shù)。

主要技術(shù)指標(biāo)

★★光路結(jié)構(gòu)	CT型單色器焦距250mm
顯示方式：	6英寸 320×240 點(diǎn)陣帶背光數(shù)字 LCD
★★光源燈：	預(yù)調(diào)日本濱松無臭氧環(huán)保型氘燈歐司朗長(zhǎng)壽命鹵鎢燈
測(cè)光方式	透過率，吸光度，能量，反射率
光譜帶寬	2nm
波長(zhǎng)范圍	190nm～1100nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度	≤±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性	≤0.1nm
★光度范圍	0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F
光度準(zhǔn)確度	≤±0.3%(t) (0～100%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A)
光度重復(fù)性	≤0.15%(t) (0-100%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A)
雜光	≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2））
★穩(wěn)定性	≤±0.0004A/h（500nm，開機(jī)預(yù)熱30min）
噪聲	≤±0.0003A
★基線平直度	≤±0.001A（190～1100nm）
★★導(dǎo)數(shù)分辨率	>0.5
掃描速度	快中慢
★★電源電壓	100V～240V范圍內(nèi)都可以使用 50/60±1Hz
儀器尺寸	650×450×220（mm）